張瑞芬

當代科學研究領域中，利用先進光學系統對材料進行光學性質 分析，已成為檢測物質內在機制的重要手段。本研究通過結合光致 發光（Photoluminescence, PL）和電致發光（Electroluminescence, EL） 技術激發樣品，配合無焦系統和透鏡組，將樣品的發光特性轉換為 適合電荷耦合元件（Charge Coupled Device, CCD）測量的尺寸及形 式。此方法能夠迅速且精準地獲得光強度角度分佈的實驗數據，與 傳統測量方法相比，大幅提升了實驗效率，同時避免了樣品衰退的 問題。 在光學系統的設計過程中，關鍵步驟包括將樣品產生的光線通 過物鏡在不同角度展開，並利用可調式光圈（IRIS）過濾掉高角度 下的雜訊。系統中的無焦組件作為基礎架設，用於調節匹配光束的 尺寸，最終在 CCD 上形成一個角度對角度的二維光強度分佈圖像， 而樣品的激發方式採用了光致發光（PL）的方式，使系統能夠靈活 適應多種樣品的激發需求。