梁肇文

隨時代日新月異，小型鏡片因市場需求，往越來越多且越來越廣的方向發展，但要想全檢測小型鏡片且同時到高速且準確地量測，目前市面上檢測機器都難以做到。本實驗室先前有開發自動化波前檢測設備儀器，其目的為快速而又高通量來解決需要大量檢測小型鏡片的需求。其優勢為單一顆鏡片的一個量測週期只需在十秒內，再者非接觸式量測的架構，能使鏡片壽命大大提升，即便是檢測完的鏡片依舊可以實裝在光學元件上使用。 對應到此儀器設備高速、高通量的檢測，有一個完整的校正的步驟流程相當重要，而後續再了解在整個量測系統上，其對待測鏡片的量測精度範圍落在何區間，是很有必要的。故本實驗針對量測系統架構上，在align待測鏡片的量測位置步驟中，以及重複取放得量測下，所有會對軸上量測的共軛位置距離產生誤差，進而影響待測鏡片量測的power誤差項，去做整理歸納。