余業緯
孫慶成

本論文主要利用相位疊加法建立體積全像光學元件的數值模型，探討角度偏移及波長偏移情況下的繞射特性，並以實驗結果與模擬結果相互驗證。 我們以相位疊加法建立一個以兩道平面波干涉之模型，當使用觀測距離遠大於全像片厚度以及微小相位變化的近似條件下，我們可以推導出解析解，並將其用以分析繞射光點位置，並以實驗驗證模擬之準確性。然而當我們要探討波長容忍度相關問題時，解析解的數值分析結果將產生些微誤差，因此我們需要調整近似條件至只使用觀測距離遠大於全像片厚度之條件，可以模擬出正確的波長選擇性與角度選擇性，並使用模擬結果與實驗結果相互驗證。