張瑞芬

本論文研究磷酸自組性單分子層沉積於金屬氧化層對橫向與垂直有機電晶體，並探討不同碳鏈長的自組性單分子層（SAM）對於N型小分子材料碳六十(C60)與P型小分子材料dinaphtho[2,3-b:2’,3’-f]thieno[3,2-b](DNTT)與金屬氧化層界面的影響。由橫向電晶體電性表現結果發現當SAM成長於金屬氧化層基材有助於載子遷移率(mobility)提升，其中在DDPA(C12)處理下mobility較高。進一步透過AFM結構分析，觀察表面形貌、晶粒大小以及表面粗糙度的差異。本研究再以膠體微影技術製作P型垂直電晶體，並探討在不同碳鏈長的SAM對於垂直電晶體載子的側向注入，發現開電流密度提升的趨勢與橫向電晶體的mobility相仿。