張瑞芬
張瑞芬
郭倩丞

本論文主要研究於即時性多角度光譜系統之架設、校正和量測，系統由物鏡、無焦系統、光學狹縫、光柵與互補式金屬氧化物半導體晶片所組成，藉由物鏡使不同角度的光導入系統，將對其作空間濾波、波長分光與匹配光束大小，最後可得波長與角度之二為空間頻譜。 由於系統受光學元件響應影響，導致光強度分布失真，故藉由光纖校正其強度。電致發光之校正頻譜沿用學長之研究結果，在此以紅光與綠光OLED作為待測物，驗證校正頻譜之正確性。而光致發光為區域發光難以定義發光面積，需在對其光強度做校正，校正方法是分別以光纖與系統拍攝寬頻光致發光源之空間頻譜，對除得到其校正頻譜，並在以橘光材料驗正光致發光校正頻譜之正確性。反射率量測為相對強度之量測，此系統以高反射率且反射率較不會隨角度飄移之銀鏡當作反射率基準，量測方法為使用系統分別擷取銀鏡與待測樣品之二維頻譜，對除後在乘上銀鏡實際之反射率及可得到樣品之空間反射頻譜。 即時性多角度光譜量測系統相較於光纖量測有諸多優點，除了能迅速取得平面光源空間頻譜外，更可藉由系統量測出零度角之反射率或是低角度下的光致發光頻譜，上述優點在一般光纖量測下較難以達成，最後本論文以提出此系統可用於量測角度相關元件以及OLED量測之可行性。