張瑞芬

本研究旨在即時性多角度光譜量測系統之建立，結合電致發光(Electroluminescence, EL)、光致發光(Photoluminescence, PL)以及反射率 (reflectance)等量測，建立一套三合一的即時量測系統。 系統的光學設計上，光經由物鏡將各角度展開，通過狹縫後定義出空間維度，再由光柵將波長維度分光，最終在互補式金屬氧化物半導體(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor, CMOS)上形成一波長—角度之二維空間頻譜。整套系統由無焦系統(Afocal system)做為基礎原理架設而成，用以匹配光束的尺寸。另外，以外加光源的方式作為光致發光及反射率量測的量測光源。 即時性多角度光譜量測系統之優點在於迅速及方便性，對比於光纖量測需要較長的量測時間，本系統僅需花費數秒鐘即可擷取到待測物之空間頻譜，省時且利於有機半導體元件。另外，本系統的量測方式是將待測物直接靠置在物鏡前端，待測物尺寸僅需大於物鏡之收光孔徑，並無影響量測結果；而對於光纖量測，待測物尺寸與量測距離之相對關係則造成更多變因。 即時性多角度光譜量測系統未來可應用於OLED之空間頻譜量測，且對於具角度相依性的微共振腔元件如有機雷射之研究具有相當大的助益。