戴朝義

本論文利用反摺積技術重建R6G螢光分子在金屬奈米結構上隨機發光的過程，以獲得一張超解析影像。透過金屬電漿子增強螢光訊號強度，來凸顯金屬與基板訊號上的差異，再控制螢光分子濃度使之稀疏發光，進而達到單分子發光，由於布朗運動的關係，螢光分子會隨機出現在樣品上，錄製每個時刻的螢光影像，再透過反摺積運算，疊加一張張反摺積後的螢光影像，便能描繪出金屬奈米結構。若能成功達到與電子顯微鏡相同解析度，便是建立了一項超解析影像技術，此技術將超越光學顯微鏡的解析度，且不具有像電子顯微鏡有破壞樣品的風險。