李正中

光學薄膜是鍍製不同的高低折射率材料組成多層膜結構，利用干涉原理來達到光學效果。然而過多的膜層會導致薄膜應力過大使光學鍍膜之波面變形，易造成光電元件壽命短少，進而導致光學薄膜品質降低。過大的薄膜應力會使薄膜產生破裂或起皺而導致剝落，使得光學薄膜元件之良率與穩定性受到很大的誤差。因此如何有效利用鍍製具有可撓性之電漿聚合薄膜來減少多層光學薄膜之應力，是本研究所探討之重點。 在本研究中使用電漿聚合反應來裂解HMDSO (Hexamethyldisiloxane)單體，進而鍍製出氧化矽摻碳氫之電漿聚合薄膜，分別改變HMDSO流量、氧氣流量、Beam Current以及Anode Voltage四種參數來鍍製電漿聚合薄膜，分析其組成結構、光學性質、元素比例與薄膜應力並且找出之間關係。從中發現當聚合薄膜之線狀/籠狀比例上升，應力大小會有下降之趨勢(從 GPa下降至 GPa)，並且平均穿透率皆維持在90 %以上。證明了利用改變參數可以有效控制電漿聚合膜之線狀/籠狀比例並且可以預測出鍍製電漿聚合膜之應力。最後在鍍有電漿聚合薄膜之樣品上加上多層膜結構，證明電漿聚合薄膜能夠有效控制多層膜應力，降低70 %的多層膜應力。