陳思妤

本研究主要為改良雙光子螢光顯微鏡(Two-Photon Microscopy, TPM)，應用線狀光形的干涉條紋當作結構照明(Structured Illumination)以提升解析度。結構照明顯微鏡(Structured Illumination Microscopy)可將頻譜空間拓展至傳統顯微鏡的兩倍，並使解析度提升至傳統顯微鏡的兩倍。而雙光子螢光與激發光強度成平方關係的特點，使雙光子螢光顯微鏡有良好的光學切片能力，可以改善結構照明顯微鏡縱向解析度的不足，且雙光子螢光之結構照明可提升影像的空間頻率為將近原本的三倍。因此可透過此系統架構，不但使解析度提高亦可以擁有光學切片能力。 本研究可分為實驗與模擬兩部分。在模擬方面，依照實驗架構的規格，模擬雙光子螢光顯微鏡以線狀結構照明激發的影像，並將影像經由演算法重建還原，其解析度約提升2.57倍；而在實驗部分，成功架設出應用線狀結構照明之雙光子螢光顯微鏡，以量子點奈米微粒(Quantum Dot Nanosphere)作為空間解析度量測的樣本，並經由演算法將影像重建還原，可得其橫向空間解析度約提升至1.7倍。