陳思妤

光學顯微鏡具備了非侵入式量測之優點，所以被廣泛應用在生物、材料等領域中可用來觀測與度量，但遠場光學顯微技術會受到光的波動性之影響，使得橫向解析度大約只能達到波長的一半，隨著科技越來越進步，對於光學顯微技術解析能力的要求也逐漸提高。 本文將會簡介目前最普遍使用的遠場超解析度顯微術－結構照明顯微術，與其影像的重建原理，因傳統式結構照明顯微術只能觀測具有螢光特性的樣本，所以開發出一套散射式結構照明顯微技術並搭配新的演算法，不但能提升顯微系統的解析度，對於樣本也無光破壞之問題，本系統主要是運用兩道平行光在像平面上作干涉，產生出具有結構性的照明光來激發樣品，藉由取得不同條紋方向及相位的散射影像來解出高頻率資訊，利用我們所架設之系統來觀察金奈米粒子，解析度僅能獲得1.2倍的提升，與理論值為1.44倍有些落差，將會在本文中探討實驗誤差的因素。